ＴＯＥＩＣ　Ｌ＆Ｒ　ＴＥＳＴ　「正解」が見える８６のコツ

トーイックエルアンドアールテストセイカイガミエルハチジュウロクノコツ

著：キム　デギュン　訳：松田　由紀

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製品情報

製品名	ＴＯＥＩＣ　Ｌ＆Ｒ　ＴＥＳＴ　「正解」が見える８６のコツ
著者名	著：キム　デギュン　訳：松田　由紀
発売日	2018年03月31日
価格	定価：1,980円（本体1,800円）
ISBN	978-4-06-295264-4
判型	A5
ページ数	304ページ
シリーズ	講談社パワー・イングリッシュ

著者紹介

著：キム　デギュン（キム　デギュン）

高麗大学校英語英文科、高麗大学校大学院英語英文科卒業。現在、キム・デギュン語学院院長。延世語学堂と西江大学校でＴＯＥＩＣ、ＴＯＥＦＬなどを教え、ＦＭラジオでＴＯＥＩＣ講座も担当している。『ソウル経済新聞』の”ＴＩＭＥ誌「主要記事」コラム”の翻訳を担当。1997年1月から現在まで連続300回以上ＴＯＥＩＣを受験し、分析を続けている。主な著書に『ＴＯＥＩＣ　Ｔｅｓｔ「正解」が見える』（講談社）、『新ＴＯＥＩＣテスト一発で正解がわかる』（旺文社）、『新ＴＯＥＩＣ　ＴＥＳＴキム・デギュンの究極厳選400問』（朝日出版社）など、多数ある。

訳：松田　由紀（マツダ　ユキ）

東京出身。早稲田大学教育学部教育心理学専修卒業。新聞社勤務ののち韓国延世大学新聞放送学科大学院碩士課程（日本の修士課程に相当）卒業。現在、北海道を拠点とし、韓国語講師、通訳・翻訳業を行う。翻訳は特許・司法関係を中心に、幅広いジャンルを手掛ける。北海道大学、北星学園大学、札幌市立大学、藤女子大学非常勤講師（韓国語）。