固体表面キャラクタリゼーションの実際

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固体表面キャラクタリゼーションの実際
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内容紹介

何が測定でき、何がわかるか? この疑問に答えるナノテク研究者必携のコンパクトな入門書!ナノ材料の表面構造と物性を観察・評価するために、不可欠なスペクトロスコピーの測定技術と解釈方法をそれぞれの専門家がやさしく解説。光触媒、カーボンナノチューブ、燃料電池材料などの先端材料のキャラクタリゼーションが一目でわかる。

目次

  • 1章 固体表面・固体材料のキャラクタリゼーション
  • 2章 X線一般・XRD(X線回折)
  • 3章 XPS(X線光電子分光)
  • 4章 XAFS(X線吸収微細構造)
  • 5章 UV/VIS(紫外/可視)・PLS(光ルミネセンス)
  • 6章 IR(赤外)・Raman(ラマン)分光法
  • 7章 ESR(電子スピン共鳴)
  • 8章 NMR(核磁気共鳴)
  • 9章 TEM(透過電子顕微鏡)・SEM(走査電子顕微鏡)
  • 10章 STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)
  • 11章 昇温スペクトル
  • 12章 MS(質量分析)・SIMS(二次イオン金属分析)
  • 13章 CV(サイクリックボルタンメトリー)
  • 14章 「目で学ぶ」ケーススタディー

製品情報

製品名 固体表面キャラクタリゼーションの実際
著者名 編:田中 庸裕 編:山下 弘巳
発売日 2005年01月26日
価格 定価 : 本体3,500円(税別)
ISBN 978-4-06-154325-6
判型 A5
ページ数 212ページ

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