粉末Ｘ線回折による材料分析
フンマツエックスセツニヨルザイリョウブンセキ
内容紹介
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目次
- 1 粉末回折に必要な結晶学
- 1．単位胞、空間格子（結晶系とブラヴェ格子）
- 2．結晶のもつ対称性
- 3．点群と空間群
- 4．実格子と逆格子
- 2 X線についての基礎知識
- 1．X線の発生原理
- 2．X線による回折、散乱、吸収
- 3 粉末X線回折の理論
- 1．ブラッグ反射と回折線の関係
- 2．構造因子と回折強度
- 3．消滅則と空間群の決定
- 4．フーリエ変換による電子密度分布
- 4 粉末X線回折計による測定装置
- 1．X線発生装置（X線封入管、回転対陰極）
- 2．粉末回折計の光学系
- 5 粉末回折実験の実際
- 1．試料の調整
- 2．X線の選択
- 3．測定条件の設定
- 6 粉末回折計以外の粉末回折方法
- 1．粉末回折写真法による測定
- 2．粉末回折実験に用いられるいろいろな検出器
- 3．エネルギー分散粉末回折法
- 7 粉末回折法を利用した解析
- 1．格子定数の測定
- 2．定性分析と定量分析
- 3．結晶子（粒度）解析
- 4．形状と組織解析
- 5．結晶子のひずみと応力測定
- 6．有機化合物の粉末回折
- 8 粉末結晶構造解析
- 1．粉末回折線プロファイル
- 2．リートフェルト法粉末構造解析
- 3．ab initio法
- 4．粉末回折法を用いた電子密度解析
- 5．マキシマムエントロピー法による構造解析
- 6．異常分散を利用した粉末構造解析
- 9 特殊条件下での粉末X線回折
- 1．高温粉末回折実験
- 2．低温粉末回折実験
- 3．高圧粉末回折実験
- 4．時間分割粉末回折実験
- 10 粉末試料同定・検索法
- 1．JCPDSデータベース
- 2．同定法
- 3．計算機による検索法
- 11 薄膜X線回折法
- 1．薄膜X線回折実験の目的
- 2．薄膜X線回折法
- 3．平行光学系
- 12 非晶質試料X線回折実験
- 1．動径分布関
