ナノ材料解析の実際

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その他:米澤 徹 その他:朝倉 清高 その他:幾原 雄一
ナノ材料解析の実際
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内容紹介

複数の手法を組み合わせて、材料解析を行うことで、材料の本当の姿がみえてくる。「ナノ材料」の解析全般を網羅し、実例を交えながら、要点を解説した。「よりよいデータを」と願う研究者・技術者の羅針盤となる必携の指南書!

目次

  • 第1章  序論
  • 第1部 X線・中性子線
  • 第2章  X線吸収微細構造(XAFS)
  • 第3章  顕微XRF・顕微XAFS
  • 第4章  X線光電子分光法(XPS)・オージェ電子分光法(AES)
  • 第5章  すれすれ入射X線小角散乱(GISAXS) 
  • 第6章  中性子線回折
  • 第2部 電子線・プローブ
  • 第7章  走査電子顕微鏡(SEM)
  • 第8章  集束イオンビーム-走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)
  • 第9章  透過電子顕微鏡(TEM)
  • 第10章 電子回折 
  • 第11章 走査透過電子顕微鏡(STEM)
  • 第12章 環境制御型電子顕微鏡
  • 第13章 走査トンネル顕微鏡(STM)
  • 第14章 原子間力顕微鏡(AFM)
  • 第3部 そのほかの分析手法
  • 第15章 共焦点レーザースキャン顕微鏡(LSCM)
  • 第16章 動的光散乱法による粒子径測定 
  • 第17章 質量分析(MS) 
  • 第18章 固体核磁気共鳴(NMR)分光法
  • 第19章 赤外分光法・ラマン分光法
  • 第20章 磁性測定
  • 第21章 二次イオン質量分析法(SIMS) 
  • 第4部 トピックス
  • 第22章 ナノ粒子触媒評価 
  • 第23章 合金ナノ粒子評価
  • 第24章 燃料電池用電極触媒評価
  • 第25章 太陽電池評価
  • 第26章 磁気光学効果 
  • 第27章 電気化学走査型トンネル顕微鏡(電気化学STM)
  • 第28章 カロリメトリー 
  • 第29章 in situ時間分解XAFSによる触媒構造解析 
  • 第30章 電子線ホログラフィー 
  • 第31章 ナノカーボンの電子顕微鏡観察

製品情報

製品名 ナノ材料解析の実際
著者名 その他:米澤 徹 その他:朝倉 清高 その他:幾原 雄一
発売日 2016年06月18日
価格 定価 : 本体4,200円(税別)
ISBN 978-4-06-154392-8
判型 A5
ページ数 352ページ

著者紹介

その他:米澤 徹(ヨネザワ テツ)

北海道大学大学院工学研究院 教授

その他:朝倉 清高(アサクラ キヨタカ)

北海道大学触媒科学研究所 教授

その他:幾原 雄一(イクハラ ユウイチ)

東京大学大学院工学系研究科 教授

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