ナノ材料解析の実際
ナノザイリョウカイセキノジッサイ
内容紹介
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目次
- 第1章 序論
- 第1部 X線・中性子線
- 第2章 X線吸収微細構造（XAFS）
- 第3章 顕微XRF・顕微XAFS
- 第4章 X線光電子分光法（XPS）・オージェ電子分光法（AES）
- 第5章 すれすれ入射X線小角散乱（GISAXS)
- 第6章 中性子線回折
- 第2部 電子線・プローブ
- 第7章 走査電子顕微鏡（SEM）
- 第8章 集束イオンビーム－走査型電子顕微鏡（FIB-SEM）
- 第9章 透過電子顕微鏡（TEM）
- 第10章 電子回折
- 第11章 走査透過電子顕微鏡（STEM）
- 第12章 環境制御型電子顕微鏡
- 第13章 走査トンネル顕微鏡（STM）
- 第14章 原子間力顕微鏡（AFM）
- 第3部 そのほかの分析手法
- 第15章 共焦点レーザースキャン顕微鏡（LSCM）
- 第16章 動的光散乱法による粒子径測定
- 第17章 質量分析（MS）
- 第18章 固体核磁気共鳴(NMR)分光法
- 第19章 赤外分光法・ラマン分光法
- 第20章 磁性測定
- 第21章 二次イオン質量分析法（SIMS）
- 第4部 トピックス
- 第22章 ナノ粒子触媒評価
- 第23章 合金ナノ粒子評価
- 第24章 燃料電池用電極触媒評価
- 第25章 太陽電池評価
- 第26章 磁気光学効果
- 第27章 電気化学走査型トンネル顕微鏡（電気化学STM）
- 第28章 カロリメトリー
- 第29章 in situ時間分解XAFSによる触媒構造解析
- 第30章 電子線ホログラフィー
- 第31章 ナノカーボンの電子顕微鏡観察
